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      1. 產品詳情
        • 產品名稱:冷熱沖擊試驗箱

        • 產品型號:
        • 產品廠商:其它品牌
        • 產品價格:0
        • 折扣價格:0
        • 產品文檔:
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        簡單介紹:
        簡單介紹 簡單介紹 冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱規格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求
        詳情介紹:
        產品描述
        產品描述


        冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
        冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*溫度控制
        可實現溫度定值控制和程序控制;
        全程數據記錄儀(可選功能)可以實現試驗過程的全程記錄和追溯;
        每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
        USB接口、以太網通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
        采用國際流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節壓縮機制冷功率,較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
        制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產品,使設備的整體質量得到了提升和保證;
        冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*設備滿足以下標準
        GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
        GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
        GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
        GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
        GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第3部分:高溫試驗
        GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第4部分:低溫試驗
        GJB 150.**-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
        GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

         
         
        TSL-80-A
        TSU-80-W
        TSS-80-W
        TSL-150-A
        TSU-150-W
        TSS-150-W
        TSL-225-W
        TSU-225-W
        TSS-225-W
        TSL-408-W
        TSU-408-W
        TSS-408-W
        標稱內容積(升)
        80
        150
        200
        300
        試驗方式
        氣動風門切換2溫室或3溫室方式
        性能
        高溫室
        預熱溫度范圍
        60~+200
        升溫速率※1
        60→+200℃≤20分鐘
        低溫室
        預冷溫度范圍
        -78-0
        降溫速率※1
        20→-75℃≤80分鐘
        試驗室
        溫度偏差
        ±2
        溫度范圍
        TSL:(+60+125→(-40--10);
        TSU:+60~+150)-55~-10);
        TSS:+60~+150)-65~-10)
        溫度恢復時間※2
        5分鐘以內
        試樣擱架承載能力
        30kg
        試樣重量
        7.5kg
        7.5kg
        10kg
        10kg
        內部尺寸(mm)
        W
        500
        600
        750
        850
        H
        400
        500
        500
        600
        D
        400
        500
        600
        800
        外形尺寸(mm)4
        W
        1460
        1560
        1710
        1880
        H
        1840
        1940
        1940
        2040
        D
        1500
        1600
        1700
        1900
        1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
        2恢復條件:室溫為+25℃和循環水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)


         冷熱沖擊試驗箱規格表(Programmable Thermal Shock Tster)

        ---- 不符合此規格◎符合此規格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
        試驗規范
         駐留溫度()
        (exposure temp.)
        駐留溫度時間(Min)
        (exposure time)
        覆歸時間
        (recovery time)
         周期
        或次數
        試驗起
        始點
        適用機臺型號
        TS-(80/150/225/408)
        高溫
        室溫
        低溫
        高溫/低溫
        室溫
        S
        U
        L
        MIL-STD-883E
        (Method No.1010.7)
        +85
        +10
        ----
        -55
        0
        10min
        15min
        ----
        含駐留時間&
        轉換時間≦15min
        *少
        10
        低溫或
        高溫
        Temperature Cycling
        (
        轉換時間<1min)
        實驗過程若中斷
        超過總實驗之1/10
        次則實驗須重做
        ----
        0
        +125
        +15
        ----
        0
        -10
        +150
        +15
        ----
        0
        +150
        +15
        -65
        0
        .
        ----
        0
        -10
        MIL-STD-202F
        (Method No.107G)
        +83
        +3
        -25
        +10
        -55
        0
        28g以下
        15
        30 Min
        28
        136g
        30Min
        136g
        1.36Kg
        60Min
        1.36
        13.6Kg
        120Min
        13.6~136Kg
        240Min
        Max.
        5 Min
        5 Min 以內
        5 cycle
        25
        50
        100
        低溫
        Transfer time
        不超過5 min
        0
        -3
        +125
        +3
        -65
        0
        ----
        0
        -5
        -5
        +125
        +3
        -65
        0
        ----
        0
        -5
        JIS C 0025
        IEC 68-2-14
        GB 2423.22
        +70
        +85
        +100
        +125
        ±2
        ±2
        ±2
        ±2
        室溫
        -5
        -10
        -25
        -40
        -55
        -65
        ±3
        ±3
        ±3
        ±3
        ±3
        ±3
        3hr
        2hr
        1hr
        30min
        或無定義則
        3hr定義
        手動轉
        移時間
        2
        3Min
        為駐留時間
        1/10
        5 cycle
        除非有
        其它規格
        低溫
        Auto 
        Transfer time
        不超過30 sec
        小試件
        Transfer time
        不超過10 sec
        ----
        IPC 2.6.7 +70
        ±2
        ----
        0
        +0
        15 Min
        ----
        2 Min 以內
        100 cycle
        高溫
        (
        試驗結束
        點在高溫)
        Transfer time
        不超過2 min
        -0
        -5
        +85
        +5
        -40
        +0
        -0
        -5
        +105
        +5
        -55
        +0
        -0
        -5
        +105
        +5
        -65
        +0
        ----
        -0
        -5
        +105
        +5
        ----
        -0
        IPC 2.6.6 +85
        +3
        -25 +10 -55
        +0
        30 Min
        10-15 
        Min
        5 cycle
        -0
        -5
        +125
        +3
        -5 -65 +0
        ----
        -0
        -5
        Bellcore
        GR-1221-CORE
        +70
        ±2
        ----
        10min
        15min
        ----
        含駐留時間
        &
        轉換時間≦15min
        500 cycle
        OR
        1000cycle
        +80
        ±2
        JESD22
        A104-A
        +125
        +10
        -40
        +0
        15min
        含駐留時間
        &
        轉換時間≦15min
        10
        可接受;
        1000

        合格
        Temperature
        Cycling
        (
        轉換時間<1min)
        實驗過程若中斷
        超過總實驗之1/10
        次則實驗須重做
        -0
        -10
        +85
        +10
        -55
        +0
        -0
        +125
        +10
        -0
        -10
        +150
        +10
        -0
        +150
        +10
        -65
        +0
        產品留言

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